老化試驗(yàn)房，也被稱(chēng)為高溫試驗(yàn)室或燒機(jī)房，是一種針對(duì)高性能電子產(chǎn)品（如計(jì)算機(jī)整機(jī)、顯示器、終端機(jī)、車(chē)用電子產(chǎn)品、電源供應(yīng)器等）進(jìn)行高溫、惡劣環(huán)境測(cè)試的設(shè)備。其主要目的是通過(guò)模擬高溫等惡劣環(huán)境，測(cè)試產(chǎn)品的性能穩(wěn)定性與可靠性，從而提高產(chǎn)品的質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)力。6.1.內(nèi)容積 12m3

6.2.設(shè)備尺寸 內(nèi)箱尺寸：W(3000 )mm × H( 2000)mm × D( 2000)mm；
外型尺寸：約W(3500 )m × H(2300)mm × D(2300)mm  以實(shí)際尺寸為標(biāo)準(zhǔn)
6.3.開(kāi)門(mén)尺寸 單開(kāi)門(mén)：W900mm×H1800mm；（ 可依客戶(hù)要求選擇或定制）
七、性能指標(biāo)
7.1.滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn) GB/T 5170.2-2008 溫度試驗(yàn)設(shè)備
GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗(yàn)方法Bb
GJB150.3-1986   高溫試驗(yàn)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn)
（每立方米負(fù)載不大于35kg/m3鋼的熱容量，濕熱試驗(yàn)時(shí)無(wú)有源濕、熱負(fù)載）
7.2.溫度范圍 RT+10～60℃
7.3.溫度波動(dòng) 溫度：≤±0.5℃  
（指控制器設(shè)定值和控制器實(shí)測(cè)值之差）
7.4.溫度均勻度 溫度：≤5.0℃
（均勻度為每次空載測(cè)試中實(shí)測(cè)最高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）
7.5.溫度升溫時(shí)間 約30min
八、結(jié)構(gòu)特征
8.1.試驗(yàn)室保溫結(jié)構(gòu)
內(nèi)外壁材料：五面 5cm厚彩鋼板具有輕質(zhì)、高強(qiáng)度、保溫隔熱、美觀耐用等優(yōu)點(diǎn)
8.2.空氣調(diào)節(jié)通道 風(fēng)機(jī)、加熱器、蒸發(fā)器、風(fēng)門(mén)、溫度傳感器
8.3.試驗(yàn)室體配置 1.引線孔：標(biāo)配1個(gè)；φ100mm位于箱體背面兩側(cè)各一個(gè) （到安裝現(xiàn)場(chǎng)開(kāi)孔）
2. 觀察窗：約長(zhǎng)60cm*寬40cm透明電熱膜中空鋼化玻璃1套（位于門(mén)上）
3 .室內(nèi)安裝防潮防爆燈2套，照亮整個(gè)測(cè)試室，以便檢測(cè)測(cè)試狀態(tài)；

4 .試驗(yàn)室操作保養(yǎng)手冊(cè)、控制器說(shuō)明書(shū)、保修卡、合格證、各一份。
老化試驗(yàn)房廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域，成為各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競(jìng)爭(zhēng)性的重要手段。通過(guò)這個(gè)測(cè)試程序，企業(yè)可以檢測(cè)出有缺陷的產(chǎn)品或零件，快速發(fā)現(xiàn)和解決問(wèn)題，從而全面提升生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。